Suchergebnis | Alte Mühle

Karl Riedling

Ellipsometry for Industrial Applications

60,80 €*

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Mathias Schubert

Infrared Ellipsometry on Semiconductor Layer Structures

273,00 €*

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Harland G. Tompkins, William A. McGahan

Spectroscopic Ellipsometry and Reflectometry

210,00 €*

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Amir Moungache

Ellipsométrie hyperfréquence

97,60 €*

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Christof Koltunski

Verfahren zur Charakterisierung ultradünner Schichten

55,90 €*

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Juliane Bunk

Proteinadsorption auf Polymeroberflächen

55,90 €*

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Julia Braun

Polarisationsoptische Eigenschaften nanostrukturierter Metallfilme

78,90 €*

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Christoph Eberle

Porphyrin- und Porphyrin-Fulleren-Derivate

78,90 €*

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Marcus Röppischer

Optische Eigenschaften von Aluminium-Galliumnitrid-Halbleitern

101,00 €*

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Daniel Faltermeier

Ellipsometrie an Pentacen und Tetracen Dünnfilmenund Einkristallen

76,80 €*

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Christian Emanuel Negara

Abbildende Ellipsometrie mit Lichtwegumkehrung für die optische Charakterisierung von gekrümmten Oberflächen

55,90 €*

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Andrew T. S. Wee, Xinmao Yin, Chi Sin Tang

Introduction to Spectroscopic Ellipsometry of Thin Film Materials

114,00 €*

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